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電路板，LED，磁性材料環境試驗解決方案/成功案例
日期：2017-04-17瀏覽：5790次
電路板，LED，磁性材料環境試驗解決方案/成功案例
近年來國內外電子整機的失效統計顯示，元器件造成的失效占50%的比例。多年來一直居高不下，引起人們普遍關注。元器件本身及使用的可靠性提高對于整機可靠性的提高具有關鍵的作用。
行業 | 檢測對象 | 用途 | 工藝 | 解決方案 |
電子部品 |
印制電路板 | 生產 | 絕緣層涂料硬化干燥 | 高溫試驗箱 |
層間接合硬化 | 真空高溫試驗箱 | |||
脫泡 | 250℃真空高溫箱 | |||
評價 | 熱循環加速試驗 | 冷熱沖擊試驗箱＋導通電阻評估系統 | ||
溫濕度偏壓電壓加速試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統 | |||
高溫高壓材料耐濕試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統 | |||
LED | 生產/檢查 | 脫泡試驗 | 真空高溫試驗箱 | |
評價 | 高溫試驗 | 高溫試驗箱 | ||
低溫放置試驗 | 中型高低溫（濕熱）試驗箱 | |||
溫度循環試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
磁性材料 | 生產 | 干燥 | 高溫試驗箱 | |
評價 |
| 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | ||
| 高壓加速老化試驗箱 |
信息通訊
信息通訊設備使用范圍從室內到野外，從熱帶到寒帶，不同地方經受這多樣的環境條件。同時伴隨市場的小型化、便攜性要求的日益提高，裝置密度也不斷增加。因此，元器件選擇、系統設計、產品定型、制造工藝及失效分析都對可靠性提出了嚴格的要求。
行業 | 檢測對象 | 用途 | 工藝 | 解決方案 |
IT通訊 |
傳輸交換設備 | 檢查 | 冷熱沖擊試驗 | 冷熱沖擊試驗箱 |
高溫放置試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
老化試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
評價 | 熱循環試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | ||
lcordia試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
| 冷熱沖擊試驗箱 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統 | |||
導通評價 | 導通電阻評估系統 | |||
移動通信終端 | 檢查 | 成品動作試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |
| 高低溫(濕度）試驗室 | |||
評價 | 溫濕度試驗 | 小型環境試驗箱 | ||
| 高壓加速老化試驗箱 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統 | |||
導通評價 | 導通電阻評估系統 | |||
計算機 | 檢查 | 冷熱沖擊試驗 | 冷熱沖擊試驗箱 | |
高溫放置試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
老化試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |||
評價 | 成品或零部件的綜合評價 | 溫度、濕度、振動三綜合試驗箱 | ||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統 | |||
導通評價 | 導通電阻評估系統 | |||
計算機外存儲設備 | 檢查 | 元器件篩選 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | |
成品老化處理 | 高低溫(濕度）試驗室 | |||
評價 | 保證溫濕度范圍內動作試驗 | 高低溫（濕熱）試驗箱(J系列） | ||
| 冷熱沖擊試驗箱 | |||
絕緣評價 | 絕緣電阻劣化評估系統 | |||
導通評價 | 導通電阻評估系統 |
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 哈希HACH/萬通Metrohm
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- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
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- 紅外熱像儀
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- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
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- 永磁軟磁磁通量測試
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